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失效机制及版图设计技巧

2015-4-22 12:44| 发布者: 闪电| 查看: 92| 评论: 0

摘要: 知识点一 电过应力 电过应力(EOS)是指由对器件施加过大电压或电流而引起的失效。版图预防措施可以减小4种常见类型EOS失效发生的可能性:静电泄放(ESD)、电迁徙、介质击穿及天线效应。 1.静电泄放 静电泄放是由 ...

    电过应力(EOS)是指由对器件施加过大电压或电流而引起的失效。版图预防措施可以减小4种常见类型EOS失效发生的可能性:静电泄放(ESD)、电迁徙、介质击穿及天线效应

    1.静电泄放

    静电泄放是由静电引起的一种电过应力形式。通过特殊的测试可测出集成电路对ESD的敏感度。常见的3种测试结构称为人体模型.机器模型和充电器件模型。


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